 |
| > Lisää uutisia |
|
oulun.yliopisto(at)oulu.fi |
 |
||||||
|
||||||
 |
||||||
| UUTISIA OULUN YLIOPISTOSTA | ||||||
|
14.12.2012 RF-mittaus- ja testausseminaari yhdisti yrityksiä ja tutkijoitaRadioaaltojen käyttöön liittyvän tekniikan ja sen sovellusten mittauksia ja testausta käsitellyt seminaari jakoi tietoa saatavissa olevista RF-teknologioista Oulun alueella. Tilaisuuteen Oulun yliopistossa osallistui noin 80 henkeä tietoliikennealan yrityksistä ja tutkimusorganisaatioista. RF-testaus- ja mittauspalvelujen ja laitteistojen kysyntä on kasvanut Oulun alueella. Tarvetta on kasvattanut erityisesti uusyritystoiminta, jota entiset Nokian työntekijät ovat käynnistäneet. Seminaarin parikymmentä puheenvuoroa käsittelivät muun muassa uusien moniantennitekniikkaan perustuvien älypuhelimien testausmenetelmiä. Aihe on ajankohtainen, sillä testausmenetelmien standardointiprosessi on meneillään. Kahta varteenotettavaa vaihtoehtoa esiteltiin seminaarissa. Oulun yliopistossa on EAKR-rahoituksella voitu merkittävästi laajentaa antennimittausmahdollisuuksia ja kehittää mittausympäristö muun muassa uusien älypuhelimien suorituskyvyn testaamiseksi erilaisissa toistettavissa käyttöympäristöissä. Paneelikeskustelussa aiheena oli RF-insinöörien koulutus, tarve ja työllisyystilanne Oulun alueella. Alan osaajille on kysyntää. Uutta vetovoimaa tarvittaisiin, jotta parhaat nuoret saataisiin valitsemaan ICT- ja erityisesti RF-alan opinnot. ”Toimiala on vasta muutamia kymmeniä vuosia vanha ja langattomat teknologiat ovat nousemassa merkittävään rooliin myös muissa innovaatioissa kuin matkaviestintäalueella. Oulun RF-osaaminen on maailmanlaajuisesti huippuluokkaa. Tämän johtavan roolin säilyttämistä tukevat vahva koulutus ja lahjakkaat opiskelijat”, Janne Mustonen BusinessOulusta summasi. Seminaaripäivän järjesti tietoliikennetekniikan osasto. Tilaisuuden yhteistyökumppaneina oli kahdeksan yritystä. Lisäksi oheisnäyttelyssä mukana oli CWC-tutkimuskeskuksen (Centre for Wireless Communications) kognitiiviradiotestiympäristö. Eija Pajunen |
||||||
|
|