Etusivulle

In English

Opiskelijoille

Henkilökunnalle

Vierailijoille

Opiskelemaan yliopistoon

Tiedekunnat ja laitokset

Painoalat

Kirjasto

Alumnit

Kartat

Haku


> Lisää uutisia

Palaute ja tiedustelut

oulun.yliopisto(at)oulu.fi
puh. 0294 480 000
faksi 08 344 064
PL 8000
90014 Oulun yliopisto

Esittely Opinnot Tutkimus Hallinto Yhteystiedot
UUTISIA OULUN YLIOPISTOSTA

19.4.2013

Uusi mittauslaitteisto Mikroskopian ja nanoteknologian keskukseen

Mikroskopian ja nanoteknologian keskuksessa on otettu käyttöön uusi röntgenfotoelektronispektroskopialaitteisto.

Thermo Fisher Scientificin ESCALAB 250Xi (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) -laitteisto mahdollistaa monipuolisen pintakemiallisen analyysin tekemisen hyvin monenlaisista materiaaleista. Monipuolisesti varustetulla laitteistolla on XPS-mittausten lisäksi mahdollista tehdä ultraviolettifotoelektronispektroskopia-, heijastuselektronispektroskopia- ja ionisirontaspektroskopiamittauksia.

Laitteisto on lisäksi varustettu argon-sputterilla, joka mahdollistaa kemiallisten syvyysprofiilimittausten suorittamisen. XPS-laitteisto on tarkoitettu yliopiston kaikkien laitosten ja laboratorioiden käyttöön.

Hankinta toteutettiin yhteistyössä kemian laitoksen, materiaalitekniikan laboratorion, mikroelektroniikan ja materiaalifysiikan laboratorioiden, VTT:n ja KETEK:n kanssa. Hankintaan osallistuivat myös Nokia Siemens Networks Oy, Ruukki Metals Oyj ja Optitune Oy.