Zeiss Sigma kenttäemissiopyyhkäisyelektronimikroskooppi (FESEM)

Kenttäemissiopyyhkäisymikroskooppi (FESEM, Field Emission Scanning Electron Microscope) mahdollistaa suuren resoluution kuvauksen matalilla kiihdytysjännitteillä, jolloin myös herkkien biologisten näytteiden ja nanorakenteiden kuvaaminen on mahdollista.

Kemiallista ja rakenneanalyysiä varten mikroskooppi on varustettu EDS (Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy)-alkuaineanalysaattorilla sekä EBSD (Electron Backscatter Diffraction)-kameralla. EBSD-kameran avulla on mahdollista saada tietoa tutkittavan näytteen kiderakenteesta ja tekstuurista mittaamalla elektronien diffraktiota näytteestä. Diffraktio- ja EDS-datan käsittelyä varten laitteessa on monipuolinen ohjelmisto. Yhdistämällä EDS-analysaattorilta saatu kemiallinen informaatio ja ESBD-kameran kiderakenne informaatio, voidaan näytteistä laatia tarkkoja faasikarttoja.

  • Kiihdytysjännite: 0,1-30 kV
  • Resoluutio: 1,3 nm/20 kV, 1,5 nm/15 kV, 2,8 nm/1 kV
  • Anturit: 2 kpl SE-detektoreja, BSE-detektori
  • EDS-alkuaineanalysaattori (EDAX, Apollo X)
  • Analysoitavat alkuaineet hiilestä uraaniin
  • EBSD-kamera (EDAX, Hikari XP)

Viimeksi päivitetty: 23.1.2013