Siemens D5000 röntgendiffraktometri (XRD)

Röntgendiffraktometrilla (XRD, X-ray Diffraction) tehdään enimmäkseen yhdistemäärityksiä jauhenäytteistä (mineraalit, tuhka jne.). Muita analyysimahdollisuuksia ovat kiderakenne, faasipitoisuus, faasien tunnistus, jäännösjännitys, dislokaatioiden tiheys ja metallien sekä keraamien tekstuurin määritys. Tietokoneohjattu laitteisto mahdollistaa yhtäaikaisen diffraktogrammien käsittelyn ja mittauksen.

  • Tietokoneohjattu
  • Röntgenputket: Mo, Cu, Co, Cr
  • Goniometrit: tekstuuri, θ-θ, θ-2θ
  • DiffracPLUS Basic, Topas ja Tekstuuri/ODF ohjelmat

Viimeksi päivitetty: 7.4.2016