Mikroskopian ja nanoteknologian keskukseen asennettu uusi kenttäemissiopyyhkäisymikroskooppi (Field Emission Scanning Electron Microscope, FESEM). Mikroskooppi on malliltaan Zeiss Sigma ja se on varustettu alkuaineanalysaattorilla (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS) ja elektronidiffraktiokameralla (Electron Backscatter Diffraction, EBSD), jotka mahdollistavat mikroskoopin käytön materiaalien kemiallisen koostumuksen ja kiderakenteen analyysissä. Hankinta toteutettiin yhteistyössä Materiaalitekniikan laboratorion kanssa.

Lisätietoja mikroskoopista ja sen käytöstä antavat käyttöinsinööri Pasi Juntunen 0294 483141 ja erikoislaboratoriomestari Saku Varpenius 0294 483158.