Laitteet

Materiaalianalyysikeskuksen laitteet voidaan jakaa valmistus- ja karakterisointilaitteisiin. Puhdastiloissa olevat valmistuslaitteet mahdollistavat erilaisten mikro- ja nanorakenteiden valmistamisen, materiaalitutkimuksen ja valmistusprosessien kehittämisen.

Keskuksen karakterisointilaitteita voidaan soveltaa laajasti eri tieteenalojen materiaalitutkimukseen. Laitevalikoimaan kuuluu mm. useita pyyhkäisyelektronimikroskooppeja (SEM), läpäisyelektronimikroskooppi (TEM), röntgenmikroanalysaattori (EPMA), röntgendiffraktometri (XRD) sekä röntgenfluoresenssispektrometri (XRF). Laitteiden avulla voidaan suorittaa näytteiden kuvantamista, kiderakenteen tutkimusta sekä alkuaineanalyysejä.

Keskuksella on käytössään monipuoliset välineet näytteiden valmistukseen kaikille käytössä oleville analyysimenetelmille sekä ohjelmistot ja tietokannat saatujen mittaustulosten analysointiin.

Materiaalianalyysikeskuksen oman laitekannan lisäksi Oulun yliopiston tutkimusyksiköillä on käytössä merkittävä määrä valmistus ja karakterisointilaiteita mm. atomivoimamikroskooppeja (SPM), FTIR- ja Raman-spektroskopialaitteistoja, ICP-MS ja ICP-OES. Laitteiden käyttöä koskevissa kysymyksissä tulee ottaa yhteyttä kyseisten yksiköiden henkilökuntaan.

Analyysilaitteet
17.11.2014

Röntgenlaitteet

Valmistuslaitteet
8.1.2013

Laserit

8.1.2013

Fotolitografia

8.1.2013

Muut