Kiteisten näytteiden XRD-analyysit

Palvelussa mitataan diffraktogrammi kiinteästä näytteestä pulveriröntgendiffraktometrilla esim. tuotteiden tunnistamiseksi, seoksen komponenttien kvalitatiiviseksi tunnistamiseksi tai kiteisyysasteen määrittämiseksi. Näyte homogenisoidaan pulveriksi ennen diffraktogrammin keräämistä. Palvelun data-analyysissä tunnistetaan kiteiset faasit ja voidaan vertailla eri näytteiden eroja.

Lisäpalvelut: Rietveld-hienonnus kvantitatiivisten analyysien mahdollistamiseksi

Yhteyshenkilö: Raija Oilunkaniemi

 

 

 

Last updated: 13.5.2020